麥科信示波器光隔離探頭OIP系列

麥科信示波器光隔離探頭OIP系列 OIP500B

麥科信示波器光隔離探頭OIP系列 OIP500B

最真實的信號呈現

由于具有的共模抑制比和隔離電壓、全量程范圍內最大1.41mVrms底噪、優于1% 的測量精度，OIP系列光隔離探頭在帶寬和精度范圍內能最真實地呈現信號全部特征，是判定其他電壓探頭所測信號真實性的裁判。

第三代半導體的最佳測試手段

第三代半導體器件由于導通與關斷時間很短，信號具有更快的上升沿和下降沿，信號中具有很高能量的高頻諧波，OIP系列光隔離探頭在最高帶寬時，仍然具有近100dB的共模抑制比，可以抑制高頻共模噪聲所產生的震蕩，所呈現的信號沒有額外多余成分，是第三代半導體測試的。

測試氮化鎵（GaN）不炸管

OIP系列光隔離探頭測試引線短且采用同軸傳輸，探頭輸入電容小于3pF，測試氮化鎵（GaN）十分安全（當器件工作參數已經處于炸管臨界狀態時，接上測試設備會多出近3pF電容，不能保證絕對安全）。

麥科信示波器光隔離探頭OIP系列 OIP500B采用 SigOFIT™光纖隔離技術，擁有共模抑制比和隔離電壓，在其帶寬范圍內洞見信號的全部真相，是判定其他電壓探頭所測信號真實性的裁判。麥科信示波器光隔離探頭OIP系列 OIP500B