光隔離探頭 氮化鎵GaN半橋上管測試

發表時間:2023-03-24      點擊次數:71
測試背景


地點:
國外某品牌半導體企業,深圳氮化鎵實驗室
測試對象:
氮化鎵半橋快充
測試原因:


因高壓差分探頭測試半橋上管Vgs時會炸管,需要對半橋上管控制信號的具體參數進行摸底測試


測試探頭:
麥科信OIP系列光隔離探頭
現場條件
因該氮化鎵快充PCBA設計密度很高,阻容采用0402器件,只能采用不是方案的同軸延長線連接(通常推薦采用MCX母座連接,可最大限度減少引線誤差)。
現場連接圖如下:



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▲圖1:接線


現場測試步驟
1.將探頭連接10X衰減器,并將衰減器插入同軸延長線;
2.將OIP探頭連接示波器第4通道并開機;
3.將示波器對應通道衰減比設置10X,將輸入電阻設置為50Ω;


4.給目標板上電;


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▲圖2:測試場景1


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▲圖3:測試場景2


測試結果
1.Vgs控制電壓5.1V左右,信號光滑無任何畸變;
2.上管關斷瞬間負沖0.5V左右,在氮化鎵器件安全范圍;
3.下管關斷瞬間引起的負沖在2.2V左右,在氮化鎵器件安全范圍;
4.Vgs信號上升時間240ns左右。


(以上數據通過截屏讀數)


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▲圖4:測試結果截屏
結論
1.目標板設計合理,Vgs控制信號近乎可以;
2.測試顯示Vgs信號無任何震蕩,共模干擾被全抑制;
3.OIP系列光隔離探頭測試氮化鎵半橋上管Vgs,沒有引起炸管。



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